在涂層測(cè)厚儀行業(yè)儀器的“測(cè)量精度”一直是老生常談的話題，同時(shí)也是廣大涂層測(cè)厚儀用戶比較關(guān)注的問(wèn)題，那么影響涂層測(cè)厚儀的測(cè)量精度的因素有哪些？林上科技生產(chǎn)的高精度涂層測(cè)厚儀又是如何來(lái)解決這些因素的。本文主要描述了影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素以及林上新款高精度涂層測(cè)厚儀LS225是如何來(lái)保證測(cè)量精度的。

影響金屬基體的人為可控因素

1.金屬基體的磁性質(zhì)

磁性法測(cè)厚會(huì)受到測(cè)性變化的影響。為了避免加工工藝（熱處理和冷加工工藝的影響）對(duì)磁性的影響。我們一般會(huì)選擇與試件金屬性質(zhì)相同的標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)。

2.邊緣效應(yīng)

一般的表面涂層測(cè)厚儀會(huì)對(duì)金屬試件的表面陡變敏感。因此在測(cè)量試件表面的涂層厚度時(shí)一般會(huì)選擇比較平整的中間部位。而高精度涂層測(cè)厚儀會(huì)減少邊緣對(duì)測(cè)量精度的影響。

3.曲率

一般情況下試件的曲率會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果有一定的影響。而且這種影響會(huì)伴隨著曲率半徑的減少會(huì)明顯的增大。因此一般的涂層測(cè)厚儀在彎曲試件的表面上測(cè)量的數(shù)據(jù)是不可靠的。

4.測(cè)頭壓力和測(cè)頭的取向

側(cè)頭在試件上的壓力的大小會(huì)影響測(cè)量數(shù)據(jù)，在測(cè)量過(guò)程當(dāng)中要保持測(cè)頭與試件表面垂直且壓力平衡。而高精度涂層測(cè)厚儀會(huì)規(guī)避這樣的影響因素。

林上新款高精度涂層測(cè)厚儀是如何確保測(cè)量數(shù)據(jù)精準(zhǔn)?

既然影響涂層測(cè)厚儀的精準(zhǔn)度的因素有這么多，那么林上的新款高精度涂層測(cè)厚儀LS225是如何確保測(cè)量數(shù)據(jù)精準(zhǔn)的呢？

1.采用先進(jìn)的數(shù)字探頭

儀器采用先進(jìn)的數(shù)字探頭技術(shù)，使得測(cè)量數(shù)據(jù)直接在探頭上完成。這樣會(huì)使探頭不易受到干擾確保了測(cè)量精度。

2.儀器采用先進(jìn)的數(shù)字震蕩技術(shù)

LS225的探頭采用了數(shù)字震蕩技術(shù)，高速ADC采集。確保了儀器測(cè)量數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。

3.超小測(cè)頭

林上LS225涂層測(cè)厚儀的測(cè)頭比較小，使得以上影響因素當(dāng)中邊緣效應(yīng)、和曲率的影響因素比較小。小的測(cè)頭適合小型被測(cè)材料例如釘子、螺栓等小型工件。

4.多點(diǎn)校準(zhǔn)

采用用戶多點(diǎn)校準(zhǔn)方式，可避免因?yàn)榻饘倩w性質(zhì)而影響測(cè)量精度。儀器會(huì)依據(jù)實(shí)際工件修正曲線，使得測(cè)量數(shù)據(jù)更加精準(zhǔn)。

5.專業(yè)夾具可選

為了避免測(cè)頭壓力和和測(cè)頭取向而造成的測(cè)量數(shù)據(jù)不精準(zhǔn)的問(wèn)題，新款LS225高精度涂層測(cè)厚儀配有測(cè)試夾具(可選)，不但使得測(cè)量變得更加方便，還可以因?yàn)槿藶橐蛩貛?lái)的測(cè)量誤差。

以上就是林上LS225新款高精度涂層測(cè)厚儀為測(cè)量精度提供的強(qiáng)有力的保障措施，希望能對(duì)您提供幫助。